靜電放電(ESD:ElectrostaticDischarge)，應(yīng)該是造成所有電子元器件或集成電路系統(tǒng)造成過(guò)度電應(yīng)力(EOS:ElectricalOverStress)破壞的主要元兇。因?yàn)殪o電通常瞬間電壓非常高(幾千伏)，所以這種損傷是毀...

暗室測(cè)量進(jìn)行電子產(chǎn)品的輻射騷擾檢測(cè)，對(duì)于促進(jìn)相關(guān)行業(yè)的進(jìn)步和發(fā)展具有著明顯的促進(jìn)作用。不同的測(cè)試桌對(duì)于測(cè)試結(jié)果的影響均不會(huì)相同，要想得到準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果，只能采取在統(tǒng)一的區(qū)間段進(jìn)行對(duì)比，其結(jié)果與無(wú)測(cè)試桌的測(cè)試數(shù)據(jù)統(tǒng)一整理，這樣，就可以有效的得...

1966年IBM的ManoharL.Tandon發(fā)表了電子產(chǎn)品對(duì)高頻噪聲的抗擾度的系統(tǒng)評(píng)價(jià)。NOISEKEN從1975年創(chuàng)業(yè)開(kāi)始，就通過(guò)產(chǎn)品操作說(shuō)明書(shū)、噪聲技術(shù)報(bào)告、技術(shù)手冊(cè)等來(lái)解說(shuō)高頻噪聲試驗(yàn)的試驗(yàn)方法。各企業(yè)、各部門以此試驗(yàn)方法為基礎(chǔ)，...

不接地設(shè)備或設(shè)備的不接地部件不能如1類供電設(shè)備自行放電。若在下一個(gè)靜電放電脈沖施加前電荷未消除,受試設(shè)備或受試設(shè)備的部件上的電荷累積可能使電壓為預(yù)期試驗(yàn)電壓的兩倍。因此，雙重絕緣設(shè)備的絕緣體電容經(jīng)過(guò)幾次靜電放電累積,可能充電至異常高，然后以...

電快速瞬變脈沖群（(EFT/B,ElectricalFastTransient/Burst)是在同一供電回路中，多種用電器（或設(shè)備）在工作過(guò)程中(如開(kāi)關(guān)、繼電器等在使用時(shí))產(chǎn)生的瞬態(tài)脈沖群。如果電感性負(fù)載多次重復(fù)切換，脈沖群就會(huì)以相應(yīng)的時(shí)間...

振鈴波是一種由于電氣網(wǎng)絡(luò)和電抗負(fù)載的切換以及電源電路故障和絕緣擊穿或雷擊而感應(yīng)到低電壓電纜中所產(chǎn)生的非重復(fù)性阻尼振蕩瞬變現(xiàn)象。阻尼振蕩波則是在高壓或中壓電源線、控制線和信號(hào)線上產(chǎn)生的重復(fù)性瞬變現(xiàn)象。阻尼振蕩波與磁場(chǎng)線圈配合便是阻尼振蕩磁場(chǎng)測(cè)...